ZEISS™ –Xradia 610 et 620 Versa

Les utilisateurs peuvent acquérir des niveaux de polyvalence plus élevés pour leurs recherches scientifiques et industrielles avec les derniers modèles de microscopes à rayons X 3D de la série ZEISS Xradia Versa. En exploitant une résolution et un contraste de pointe, les ZEISS Xradia 610 et 620 Versa repoussent les limites de l’imagerie non destructive à l’échelle submicronique.

• Points fortsRepousser les limites des solutions de micro- et nano-CT
  Meilleur flux et numérisations plus rapides sans perte de clarté
  Microscopie non destructive de niveau submicronique d’échantillons complètement intacts
  Qualité d’image avec un débit élevé
  Évolutif et évolutif en réponse aux avancées et extensions à venir
  Véritable résolution spatiale de 500 nm avec une taille de voxel de 40 nm comme taille la plus petite atteignable
  Imagerie in situ pour une classification non destructive des microstructures dans des environnements contrôlés
  Résolution exceptionnelle sur une grande variété de types d’échantillons, de proportions et de plages opérationnelles

La série Xradia 600 VersaSource : Carl Zeiss Matières premières