-
×
CR-5
2 × د.ت 0,000 -
×
Système d’évaporation sous vide RapidVap avec dispositif de chauffage à couvercle, 230 V
1 × د.ت 0,000 -
×
Analyseurs XRF à microspot de paillasse | Gammes FT et X-Strata | X-Strata920
2 × د.ت 0,000 -
×
Analyseurs XRF à microspot de paillasse | Gammes FT et X-Strata | FT160
3 × د.ت 0,000 -
×
Sonicateur Q705 avec sonde
1 × د.ت 0,000 -
×
Analyseurs XRF à microspot de paillasse | Gammes FT et X-Strata | FT110A
3 × د.ت 0,000 -
×
GEOTOME DUAL
1 × د.ت 0,000 -
×
Jauges portatives d'épaisseur de revêtement
1 × د.ت 0,000 -
×
Série FT200 | XRF automatisé pour l'analyse rapide des revêtements
3 × د.ت 0,000 -
×
Carl Zeiss™ Ensemble microscope Stemi 305 EDU
1 × د.ت 0,000 -
×
SpectraMagic™ NX2
2 × د.ت 0,000 -
×
PHMETRE ACCUMET XL150
1 × د.ت 0,000 -
×
Velp Scientifica™ OHS 40 numérique
1 × د.ت 0,000
En stock
ZEISS™ – Visioner 1
Microscope numérique doté de la technologie MALS™, inspection optique entièrement focalisée en temps réel.
Les systèmes d’inspection classiques offrent une faible profondeur de champ, ce qui signifie que certaines parties de l’échantillon peuvent ne pas être nettes, ce qui peut entraîner des fonctionnalités manquantes, la fatigue de l’utilisateur et une inspection incomplète.
Le ZEISS Visioner 1 révolutionne le monde de l’inspection et de la documentation optiques. Piloté par le système unique de lentilles à réseau de micromiroirs (technologie MALS TM ), il permet pour la première fois une imagerie entièrement nette en temps réel, du premier coup et à chaque fois.
ZEISS Visioner 1 équipé de la technologie MALS™
- Jusqu’à 100 fois plus de profondeur de champ utilisable
- Permet des différences de hauteur jusqu’à 69 mm
- Réseau de micro-miroirs réfléchissants à courbures (variables) disposés dans un plan plat
- Chaque micro-miroir mesure environ 100 x 100 µm
- Chaque micro-miroir tourne et se déplace pour former des surfaces optiques à courbures variables
- Pas besoin d’empilement Z ou de recentrage
Visualisation 3D la plus rapide avec documentation
ZEISS Visioner 1 simplifie non seulement la tâche d’imagerie et de documentation, mais l’EDoF en temps réel vous permet d’inspecter votre composant plus rapidement, offrant un débit plus élevé.
Applications
- Tableau électrique 1°) Inspecté au microscope classique / 2°) Inspecté par ZEISS Visioner 1
- 1)
2 ) 
- Aiguille 1°) Inspecté au microscope classique / 2°)Inspecté par ZEISS Visioner 1
- 1°)
2°) 
| Marque | ZEISS |
|---|
Produits similaires
