ZEISS Lattice SIM 5

Équipé du modèle d’illumination ZEISS Lattice SIM et de l’algorithme de reconstruction d’image SIM², ZEISS Lattice SIM 5 fait passer à un niveau supérieur la microscopie à illumination structurée (SIM). Obtenez à tout moment les meilleurs résultats possibles, même sous une exposition lumineuse plus faible protégeant les spécimens vivants. Doublez la résolution SIM conventionnelle et distinguez les structures subcellulaires les plus fines distantes de moins de 60 nm. La technologie Lattice SIM à faible consommation de lumière fournit l’imagerie la moins invasive possible pour les échantillons vivants et fixes. Elle offre non seulement une résolution spatiale double par rapport à la technologie SIM classique, mais aussi une résolution temporelle élevée atteignant jusqu’à 255 ips.

ZEISS Lattice SIM 5 est doté d’une fonction exceptionnelle d’élimination de la lumière hors foyer et produit les sectionnements optiques les plus nets en microscopie à champ large, même pour des échantillons fortement diffus. La reconstruction d’image SIM² utilise une fonction spéciale d’étalement de points SIM pour restituer rigoureusement toutes les données d’acquisition basées sur l’illumination structurée de votre ZEISS Lattice SIM 5, avec un minimum d’artefacts d’image pour les échantillons vivants et fixes. Vous avez l’assurance de fonder vos conclusions expérimentales sur des données reproductibles générées par un algorithme puissant et éprouvé.