MEB ZEISS Sigma

La série ZEISS Sigma combine la technologie de microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) avec une excellente expérience d’utilisation. Elle contribue à structurer vos routines d’imagerie et d’analyse et à augmenter la productivité. Étudiez de nouveaux matériaux, des particules définies pour le contrôle de la qualité ou des échantillons biologiques ou géologiques. N’acceptez aucun compromis en imagerie haute résolution : utilisez des tensions basses et bénéficiez d’une résolution et d’un contraste améliorés à 1 kV ou moins. Réalisez des travaux de microscopie analytique avancée grâce à la meilleure géométrie EDS de sa catégorie et obtenez des données analytiques plus précises, deux fois plus rapidement.​

Grâce à la série Sigma, accédez au niveau supérieur de la nano-analyse.