SONDE K INOX 3X247MM -5°/700°C
Jauges portatives d'épaisseur de revêtement
X100 60ml EPA Screw Neck Vial,140 x 27.5mm,clear,2
Analyseurs XRF à microspot de paillasse | Gammes FT et X-Strata | FT160
Spectrophotomètre NanoPhotometer C40
X10 150mL Bécher, forme basse, verre borosillicaté
ZEISS Axio Observer pour les matériaux
Sous-total : د.ت 0,000
SONDE K INOX 3X247MM -5°/700°C
Jauges portatives d'épaisseur de revêtement
X100 60ml EPA Screw Neck Vial,140 x 27.5mm,clear,2
Analyseurs XRF à microspot de paillasse | Gammes FT et X-Strata | FT160
Spectrophotomètre NanoPhotometer C40
X10 150mL Bécher, forme basse, verre borosillicaté
ZEISS Axio Observer pour les matériaux
Sous-total : د.ت 0,000