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Sur commande
ZEISS Axio Observer Matériaux – Microscope Inversé pour Métallographie
Marque : ZEISS
Disponible sur commande
ZEISS · Microscopie pour les matériaux
ZEISS Axio Observer pour les Matériaux : le Microscope Inversé qui Accélère vos Analyses Métallographiques
Un système de microscopie inversée conçu pour la métallographie en lumière réfléchie, alliant qualité optique ZEISS, automatisation modulaire et évolutivité budgétaire.
Conception inversée
3 statifs évolutifs
Modules NMI & Grains
3 statifs évolutifs
Modules NMI & Grains
PrésentationUn microscope inversé pensé pour la métallographie
Le ZEISS Axio Observer pour les matériaux permet d’examiner, de développer et d’analyser rapidement des échantillons métallographiques. Sa conception inversée facilite l’observation d’échantillons volumineux ou de surface irrégulière, tandis que l’association des optiques ZEISS et de composants automatisés garantit fiabilité et reproductibilité des résultats.
Grâce à des modules logiciels dédiés, le système permet notamment l’analyse des inclusions non métalliques (NMI) et la mesure des tailles de grain. Véritable plateforme d’imagerie ouverte, l’Axio Observer permet de n’investir que dans les fonctionnalités réellement nécessaires aujourd’hui, avec la possibilité d’évoluer selon les besoins futurs du laboratoire.
Avantages clésPourquoi choisir l’Axio Observer pour vos analyses de matériaux
1
Gagnez du temps lors des examens métallographiques
- Conception inversée facilitant l’alignement parallèle sur l’objectif
- Une seule mise au point conservée pour tous les grossissements et échantillons
- Aucun réglage de mise au point requis en changeant de grossissement ou d’échantillon
2
Comptez sur des résultats fiables
- Conditions d’imagerie stables, même à fort grossissement
- Éclairage homogène sur l’intégralité du champ d’observation
- Résultats reproductibles grâce aux optiques ZEISS et à l’automatisation
- Modules logiciels dédiés : NMI, Grains, Multiphase
3
Une plateforme ouverte et évolutive
- Investissement maîtrisé selon les besoins immédiats
- Mise à niveau possible si les exigences évoluent
- Composants codés ou motorisés, large gamme d’accessoires
- Techniques de contraste adaptées à chaque application
ConfigurationsTrois statifs, trois niveaux d’automatisation
L’Axio Observer pour les matériaux est disponible avec trois statifs distincts, chacun offrant un niveau de motorisation adapté au flux de travail et au budget du laboratoire.
Axio Observer 7 Matériaux
Automatisation maximale
Z-focus motorisé et reconnaissance automatique des composants : objectifs, filtres, écran tactile intégré et télécommande.
Axio Observer 5 Matériaux
Automatisation intermédiaire
Presque tous les composants peuvent être visualisés, voire motorisés, pour un bon équilibre entre confort d’utilisation et investissement.
Axio Observer 3 Matériaux
Base codée
Tourelle porte-objectifs codée, gestion de la lumière, interfaces CAN et USB permettant la lecture directe du grossissement.
Techniques d’imagerieLe choix des techniques de contraste
L’Axio Observer offre un fond d’image homogène en champ clair comme en champ sombre, avec une lumière parasite minimisée et des aberrations de couleur réduites, quelle que soit la technique de contraste choisie.
| Technique | Description |
|---|---|
| Champ clair / champ sombre | Fond d’image exempt de lumière parasite, homogénéité maximale sur tout le champ d’observation |
| Contraste de polarisation | Analyseurs fixes, analyseur de mesure rotatif à 360°, analyseur à lame pleine onde rotative pour visualiser biréflection et pléochroisme |
| Contraste interférentiel circulaire (C-DIC) | Technique optique de polarisation utilisant la lumière polarisée circulairement, pour révéler le relief de surface |
Domaines d’applicationDes matériaux variés, une seule plateforme
Le ZEISS Axio Observer pour les matériaux s’adapte à un large éventail d’échantillons métallographiques rencontrés en laboratoire industriel et en recherche.
Aluminium gravéObservation en lumière réfléchie avec contraste de polarisation circulaire
Fonte à graphite sphéroïdalAnalyse en lumière réfléchie, champ clair
Fonte d’aluminium-siliciumAnalyse en lumière réfléchie, champ sombre
ZincContraste de polarisation avec platine lambda
NiccoliteContraste de polarisation avec platine lambda
Aluminium décapéObservation en C-DIC pour révéler la microstructure
Questions fréquentesTout savoir sur l’Axio Observer pour les matériaux
Quelle est la différence entre les statifs 3, 5 et 7 ?
Le statif 3 propose une tourelle codée et une gestion de la lumière avec interfaces CAN/USB. Le statif 5 permet de visualiser, voire de motoriser, la plupart des composants. Le statif 7 offre le niveau d’automatisation le plus élevé avec z-focus motorisé, reconnaissance automatique des composants, écran tactile et télécommande.
Pourquoi choisir un microscope inversé pour la métallographie ?
La conception inversée facilite l’alignement parallèle sur l’objectif : l’échantillon est simplement posé sur la platine, une seule mise au point suffit pour tous les grossissements et tous les échantillons suivants, ce qui accélère nettement le flux de travail.
Quels modules logiciels sont disponibles pour l’analyse métallographique ?
Des modules dédiés permettent l’analyse des inclusions non métalliques (NMI), la mesure des tailles de grain et l’étude de structures multiphasées (Multiphase), réduisant le temps consacré à l’analyse d’image.
Le système est-il évolutif ?
Oui. L’Axio Observer est conçu comme une plateforme ouverte : il est possible de n’investir que dans les fonctionnalités immédiatement nécessaires, puis de faire évoluer le système au fur et à mesure que les besoins de l’application changent.
| Marque | ZEISS |
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