ZEISS LSM 910
Sonicateur Q705 avec sonde
ZEISS AXIO-LAB A1 Microscope binoculaire
CR-5
Analyseurs XRF à microspot de paillasse | Gammes FT et X-Strata | X-Strata920
Rührblatt, PTFE, für Schaft D=16mm, Blatt D=150mm
Espace Immersif Interactif Essentiel – Taille Standard
Force Tensiometer
Analyseurs XRF à microspot de paillasse | Gammes FT et X-Strata | FT160
OBJECTIF Plan-Apochromat
BOD Sensor BOD Analysis
X10 Fisherbrand PTFE Stirrer Blade, Plain End 75x2
DIS 600i Test de dissolution des comprimés
PTFE-High Performance Rührverschluss DxH=58x70mm
Appareil de mesure d'angle de contact /pour surface importante : Large Surface Analyzer
AXIOLAB 5 POL
Série FT200 | XRF automatisé pour l'analyse rapide des revêtements
Jauges portatives d'épaisseur de revêtement
Asecos™ Armoire pour produits chimiques CS-CLASSIC
Analyseur de mousses liquides FSM
ZIESS™- Microscope à balayage Electronique
Stirrer shaft PTFE 9.5x650EX mm
Sous-total : د.ت 0,000
ZEISS LSM 910
Sonicateur Q705 avec sonde
ZEISS AXIO-LAB A1 Microscope binoculaire
CR-5
Analyseurs XRF à microspot de paillasse | Gammes FT et X-Strata | X-Strata920
Rührblatt, PTFE, für Schaft D=16mm, Blatt D=150mm
Espace Immersif Interactif Essentiel – Taille Standard
Force Tensiometer
Analyseurs XRF à microspot de paillasse | Gammes FT et X-Strata | FT160
OBJECTIF Plan-Apochromat
BOD Sensor BOD Analysis
X10 Fisherbrand PTFE Stirrer Blade, Plain End 75x2
DIS 600i Test de dissolution des comprimés
PTFE-High Performance Rührverschluss DxH=58x70mm
Appareil de mesure d'angle de contact /pour surface importante : Large Surface Analyzer
AXIOLAB 5 POL
Série FT200 | XRF automatisé pour l'analyse rapide des revêtements
Jauges portatives d'épaisseur de revêtement
Asecos™ Armoire pour produits chimiques CS-CLASSIC
Analyseur de mousses liquides FSM
ZIESS™- Microscope à balayage Electronique
Stirrer shaft PTFE 9.5x650EX mm
Sous-total : د.ت 0,000