Pourquoi choisir les analyseurs XRF de paillasse Hitachi ?
Des résultats auxquels vous pouvez faire confiance
Une centrifugeuse d’échantillon intégrée fait tourner l’échantillon pendant la mesure, garantissant que les résultats sont reproductibles, même pour des échantillons inhomogènes tels que des poudres.
L’erreur utilisateur est minimisée : le spectromètre à dispersion d’énergie est facile à utiliser avec un simple démarrage à un bouton, une interface utilisateur intuitive et un grand écran facile à lire.
Faibles coûts de fonctionnement
L’utilisation et les coûts de l’hélium sont réduits au minimum : la majorité des mesures peuvent être effectuées ambiant air atmosphère.
Peu de consommables sont nécessaires et les coûts de maintenance sont extrêmement faibles, surtout par rapport à d’autres méthodes, comme l’ICP.
Robustesse intégrée
Un plateau tournant automatisé éloigne l’échantillon des composants clés de l’analyseur EDXRF afin de minimiser le risque de dommages et assurer de faibles coûts de maintenance‘.
L’analyseur est construit avec un champ robuste– des composants éprouvés et un PC de qualité industrielle. Ces fonctionnalités signifient que la gamme XRF de paillasse est suffisamment résistante pour être utilisée dans les installations de production les plus difficiles. Les deux spectromètres EDXRF sont livrés avec des garanties d’usine. Nous offrons une garantie standard d’un an sur le Lab-X5000 et une garantie prolongée de 3 ans sur le X-Supreme8000*.
Rapide contrôle qualité
Rapide l’analyse signifie que nos analyseurs peuvent être utilisés à n’importe quelle étape de la production pour un retour rapide sur la composition et la qualité des matériaux‘.
Comparer Produits
| LAB-X5000 | X-Supreme8000 | |
| Gamme d’éléments (la suite d’éléments dépend de l’application) | Na-U | Na-U |
| Changeur d’échantillons | Non | Oui (10 positions) |
| Opération | Écran tactile | Écran tactile et clavier intégré |
| Détecteur haute résolution | Oui | Oui |
| Compensation atmosphérique automatique (pour l’analyse répétable des éléments légers Na – Cl dans le trajet de l’air) | Oui | Non |
| Purge à l’hélium pour des performances améliorées de Na-Cl | Oui | Oui |
| Une touche pour commencer la mesure | Oui | Non |
| Logiciel SmartCheck pour les contrôles d’analyse personnalisés | Oui (de base) | Oui (avancé) |
| Stockage automatique des données | Oui | Oui |
| Sauvegarde des données basée sur le cloud avec ExTOPE Connect | Oui | Non |
| Exportation de données vers LIMS ou serveur | Oui | Oui |
| Étalonnages d’usine pour les applications sélectionnées | Oui | Oui |
| Essoreuse pour une répétabilité optimale des poudres, des granulés et des formes irrégulières | Oui | Oui |
| Fenêtre de sécurité pour éviter les fuites d’échantillons dans l’analyseur | Oui | Oui |
| Garantie d’usine | Garantie 1 an | Garantie 3 ans |

Analyseurs XRF à microspot de paillasse | Gammes FT et X-Strata | FT160
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