Analyseurs XRF à microspot de paillasse | Gammes FT et X-Strata | FT160

Analyseurs d’épaisseur et de matériaux de revêtement Microspot XRF pour des tests rapides de contrôle qualité et de validation, permettant d’obtenir facilement les bons résultats en quelques secondes.

La mesure du revêtement et l’analyse des matériaux basée sur la microfluorescence des rayons X (XRF) sont une technique analytique largement acceptée et éprouvée par l’industrie, offrant une analyse facile à utiliser, rapide et non destructive, nécessitant peu ou pas de préparation d’échantillons, capable d’analyser solides ou liquides sur une large gamme d’éléments ¹³Al à ⁹²U sur le tableau périodique.

Comparaison des produits

Caractéristiques	X-Strata920	FT110A	Série FT160
Type de détecteur	Compteur proportionnel ou SDD haute résolution	Système de compteur proportionnel	SDD haute résolution
Plage d’éléments	Ti – U ou Al – U (SDD)	Ti – U	Al – U
Conception de la chambre	À fentes	Fermée ou fendue	Fermée
Options de scène XY	Socle fixe, puits profond, motorisé	Socle fixe, motorisé	Motorisé, wafer
Plus grand échantillon	270 × 500 × 150 mm	500 × 400 × 150 mm	600 × 600 × 20 mm
Nombre maximum de collimateurs	6	4	–
Filtres	1	Primaire 1, Secondaire (Option) 1	5
Plus petit collimateur / spot optique	0,01 × 0,25 mm (0,5 × 10 mil)	0,05 mm	< 30 µm (polycapillaire)
Logiciel	SmartLink	Station de rayons X	XRF Controller