ZEISS AI Sample Finder​

ZEISS AI Sample Finder​

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Principe de fonctionnement de l’AI Sample Finder​

Réduisez la durée de vos expériences de quelques minutes à quelques secondes seulement: L’automatisation s’insinue progressivement dans le domaine de la microscopie. Cependant, le placement des échantillons, le réglage de la mise au point et l’identification des zones d’intérêt de l’échantillon nécessitent encore des ajustements manuels. Désormais, ZEISS AI Sample Finder automatise entièrement cette séquence de travail. En quelques secondes seulement, vous pouvez accéder directement à toutes les zones de votre échantillon et commencer immédiatement votre expérience.

  • Placement automatique de l’échantillon

  • Acquisition d’une image d’ensemble

  • Identification du porte-échantillon 

  • Détection des zones significatives de l’échantillon

  • Réglage de la mise au point pour chaque zone d’intérêt

Event registration closed.
 

Date et heure

09/03/2025 à
09/03/2025
 

Date de clôture des inscriptions

09/03/2025
 

Lieu

-
 

Types d’évènements

E-learning
 
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