Aller au contenu
  1. Accueil
  2. Événements
  3. ZEISS AI Sample Finder​

E-learning / formation

ZEISS AI Sample Finder​

09/03/2025 · Événement en ligne

Principe de fonctionnement de l'AI Sample Finder​

Réduisez la durée de vos expériences de quelques minutes à quelques secondes seulement: L'automatisation s’insinue progressivement dans le domaine de la microscopie. Cependant, le placement des échantillons, le réglage de la mise au point et l'identification des zones d'intérêt de l'échantillon nécessitent encore des ajustements manuels. Désormais, ZEISS AI Sample Finder automatise entièrement cette séquence de travail. En quelques secondes seulement, vous pouvez accéder directement à toutes les zones de votre échantillon et commencer immédiatement votre expérience.

  • Placement automatique de l'échantillon
  • Acquisition d'une image d'ensemble
  • Identification du porte-échantillon 
  • Détection des zones significatives de l'échantillon
  • Réglage de la mise au point pour chaque zone d'intérêt

Inscription

Inscriptions closes depuis le 09/03/2025.

Voir la vidéo Nous contacter Tous les événements

Lettre d’information

Nouveautés, salons et webinaires par e-mail.

Désinscription à tout moment.

WhatsApp