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ZEISS · Industries des matériaux
ZEISS™ –Xradia 610 et 620 Versa
Microscopie à rayons X 3D pour une imagerie rapide et une résolution submicronique des échantillons intacts. Libérez de nouveaux degrés de polyvalence pour votre recherche scientifique et industrielle avec les modèles de microscopes à rayons X 3D les plus avancés de la famille ZEISS Xradia Versa. S'appuyant sur la meilleure résolution et le meilleur contraste du marché, les microscopes ZEISS Xradia Versa 610 & 620 repoussent les limites de votre imagerie non destructive à l'échelle sub-micronique.
- Marque
- ZEISS
- Référence (UGS)
- 490030-0030-001
- Disponibilité
- Sur commande
- Domaines
- Industries des matériaux, Recherche scientifique
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- Prix
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Description
Les utilisateurs peuvent acquérir des niveaux de polyvalence plus élevés pour leurs recherches scientifiques et industrielles avec les derniers modèles de microscopes à rayons X 3D de la série ZEISS Xradia Versa. En exploitant une résolution et un contraste de pointe, les ZEISS Xradia 610 et 620 Versa repoussent les limites de l'imagerie non destructive à l'échelle submicronique.
- Points fortsRepousser les limites des solutions de micro- et nano-CT
Meilleur flux et numérisations plus rapides sans perte de clarté
Microscopie non destructive de niveau submicronique d'échantillons complètement intacts
Qualité d'image avec un débit élevé
Évolutif et évolutif en réponse aux avancées et extensions à venir
Véritable résolution spatiale de 500 nm avec une taille de voxel de 40 nm comme taille la plus petite atteignable
Imagerie in situ pour une classification non destructive des microstructures dans des environnements contrôlés
Résolution exceptionnelle sur une grande variété de types d'échantillons, de proportions et de plages opérationnelles
La série Xradia 600 VersaSource : Carl Zeiss Matières premières
| ZEISS Xradia 610 Versa | ZEISS Xradia 620 Versa | |
|---|---|---|
| Résolution spatiale a | 500 nm | 500 nm |
| Résolution à distance (RaaD™) a,b (à une distance de travail de 50 mm) |
1,0 μm | 1,0 μm |
| Voxel minimum réalisable c (taille du voxel dans l'échantillon au grossissement maximal) |
40 nm | 40 nm |
| Plage de tension de la source | 30–160 kV | 30–160 kV |
| Puissance de sortie maximale de la source | 25 W | 25 W |
| Système de contrôle Scout-and-Scan™ | ✓ | ✓ |
| Scout et Zoom | ✓ | ✓ |
| ZEISS OptiRecon | Facultatif | Facultatif |
| ZEISS DeepRecon | Facultatif | Facultatif |
| Bouclier intelligent | ✓ | ✓ |
| Point vertical | ✓ | ✓ |
| API Python XRM | ✓ | ✓ |
| Changeur de filtre automatique (AFC) | ✓ | |
| Tomographie à rapport hauteur/largeur élevé (HART) | ✓ | |
| Visualiseur de contraste à double balayage (DSCoVer) | ✓ | |
| Mode champ large | 0,4x | 0,4x et 4x |
| ZEISS LabDCT Pro pour la tomographie par contraste de diffraction | - | Facultatif |
| Chargeur automatique ZEISS | Facultatif | Facultatif |
| Kit d'interface in situ | Facultatif | Facultatif |
| ZEISS ZEN Intellesis | Facultatif | Facultatif |
| ORS Dragonfly Pro | Facultatif | Facultatif |
| Extension de métrologie ZEISS (MTX) | - | Facultatif |
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