Série FT200 | XRF automatisé pour l'analyse rapide des revêtements

Description

Analyse intelligente des revêtements pour une mesure plus rapide et connectée

Le Série FT200 les analyseurs XRF de paillasse ont été conçus pour réduire considérablement le temps nécessaire pour effectuer une mesure. Reconnaissant que le plus de temps est pris avec la configuration des échantillons et la sélection des recettes de mesure, les ingénieurs d'Hitachi ont créé une série d'analyseurs révolutionnaires qui, en fait, ‘se configurent eux-mêmes, permettant d'analyser beaucoup plus de pièces en un seul quart de travail.

L'automatisation et les logiciels innovants sont ce qui fait le FT230 et FT210 analyseurs. Les modules de reconnaissance intelligente tels que Find My Part™ signifient que tout ce que l'opérateur doit faire est de charger l'échantillon, de confirmer la pièce et l'instrument s'occupe du reste. Il trouvera les bons emplacements de mesure de votre part – même sur de grands substrats – sélectionnez le bon programme d'analyse et envoyez les résultats à votre système qualité. Le temps et l'erreur humaine sont réduits, et vous obtenez plus d'analyse faite en moins de temps, ce qui rend l'inspection 100 % beaucoup plus réaliste dans un environnement de production occupé.

Faits saillants du produit
Chaque élément du FT230 et FT210 a été conçu pour réduire considérablement le temps d’analyse.

La mise au point automatisée réduit le temps de chargement des échantillons
Trouver Mon Parta™ la reconnaissance intelligente définit automatiquement la routine de mesure complète
La vue d'échantillon est présentée sur une grande partie de l'écran pour une excellente visibilité
Les diagnostics d'autocontrôle confirment la santé et la stabilité de l'instrument
S'intègre parfaitement à d'autres logiciels et exporte facilement des données
Intuitif et facile à utiliser par des non-spécialistes grâce à une nouvelle interface utilisateur
Puissant de mesurer jusqu'à quatre couches à la fois plus le substrat
Durable pour une longue durée de vie dans un environnement de production ou de laboratoire difficile
Conforme aux normes ASTM B568 et DIN ISO 3497
Vous aide à répondre aux spécifications pour ENIG (IPC-4552 B), ENEPIG (IPC-4556), Sn d'immersion (IPC-4554) et Ag d'immersion (IPC-4553 A)

Caractéristiques	FT210 – Analyseur XRF de paillasse	FT230 – Analyseur XRF de paillasse
Gamme d’éléments	Ti (22) – U (92)	Al (13) – U (92)
Détecteur	Compteur proportionnel	Détecteur de dérive de silicium (SDD)
Conception de chambre	Fendu ou fermé	Fendu ou fermé
Conception de scène XY	Motorisé ou fixe	Motorisé ou fixe
Voyage sur scène XY	250 × 200 mm	250 × 200 mm
Voyage motorisé sur l’axe Z	205 mm	205 mm
Taille d’échantillon max.	500 × 400 × 150 mm	500 × 400 × 150 mm
Nombre de collimateurs	4	4
Laser focus	Inclus en standard	Inclus en standard
Mise au point automatisée	Option	Option
Caméra à grande vue	Option	Option
Mesure indépendante de la distance	Option	Option
Reconnaissance intelligente Find My Part™	Option	Option
Analyse des revêtements	✔️	✔️
Dépistage RoHS	n/a	✔️
Logiciel	FT Connectez-vous	FT Connectez-vous