ZEISS™ –MEB Sigma GeminiSEM

FE-SEM pour l’imagerie haute qualité et la microscopie analytique avancée. La série ZEISS Sigma combine la technologie de microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) avec une excellente expérience d'utilisation. Elle contribue à structurer vos routines d'imagerie et d'analyse et à augmenter la productivité. Étudiez de nouveaux matériaux, des particules définies pour le contrôle de la qualité ou des échantillons biologiques ou géologiques. N'acceptez aucun compromis en imagerie haute résolution : utilisez des tensions basses et bénéficiez d'une résolution et d'un contraste améliorés à 1 kV ou moins. Réalisez des travaux de microscopie analytique avancée grâce à la meilleure géométrie EDS de sa catégorie et obtenez des données analytiques plus précises, deux fois plus rapidement.

Marque: ZEISS
Référence (UGS): 491000
Disponibilité: Sur commande
Domaines: Industries des matériaux, Recherche scientifique
Familles: Instruments de laboratoires
Prix: sur devis

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Sur commande ZEISS™ –MEB Sigma GeminiSEM

Description

ZEISS GeminiSEM est synonyme d’imagerie sans difficultés à une résolution sub-nanométrique. Ces FE-SEM (microscope électronique à balayage à émission de champ) excellent tant dans l’imagerie que dans l’analyse. Des innovations dans l’optique électronique et une nouvelle conception de la chambre vous offrent une meilleure qualité d’image, une plus grande facilité d’utilisation et une flexibilité accrue. Prenez des images sub-nanométriques sous 1 kV sans lentille d’immersion. Découvrez trois conceptions uniques de l’optique électronique ZEISS Gemini.

Grâce à la série Sigma, accédez au niveau supérieur de la nano-analyse.

Sigma 360

Le choix des centres d'imagerie. Acquisition intuitive.
- Bénéficiez d'un guidage précis, de la séquence de réglages aux résultats assistés par IA. Découvrez un processus d'imagerie intuitif.
- Expérimentez la différence jusqu'à 1 kV. Améliorez la résolution et le contraste.
- Réalisez une imagerie à pression variable aux extrêmes pour obtenir d'excellents résultats sur des échantillons non conducteurs.
Sigma 560

Analyse à débit élevé. Expériences in situ automatiques.
- Analyse performante d'échantillons réels : analyses rapides et polyvalentes sur le MEB.
- Automatisez vos expériences in situ : un laboratoire entièrement intégré pour réaliser des tests sans surveillance.
- Réalisez des images d'échantillons complexes en dessous de 1 kV : collectez des informations exhaustives sur les échantillons.