Aller au contenu
  1. Accueil
  2. Équipements
  3. Industries des matériaux
  4. ZIESS™- Microscope à balayage Electronique

ZEISS · Industries des matériaux

ZIESS™- Microscope à balayage Electronique

La plateforme MEB modulaire au fonctionnement intuitif, pour les contrôles de routine et les applications de recherche.
Les microscopes électroniques à balayage de la série EVO combinent de hautes performances et une expérience conviviale et intuitive qui convient à tous les profils d'utilisateurs, des microscopistes confirmés aux novices. Grâce à sa gamme complète d'options, EVO s'adapte à la perfection à vos exigences, que vous travailliez dans les sciences de la vie, les sciences des matériaux, l'assurance qualité industrielle de routine ou l'analyse des défaillances.
Consulter la fiche technique

Marque
ZEISS
Référence (UGS)
490040-0030-001
Disponibilité
Sur commande
Domaines
Industries des matériaux, Recherche scientifique
Familles
Instruments de laboratoires
Prix
sur devis

Fiche technique (PDF)

L’équipement rejoint Mon devis, à envoyer en une fois avec vos autres équipements.

Une question sur cet équipement ? +216 74 407 194 · contact@amslabo.com

Sur commandeZIESS™- Microscope à balayage Electronique
ZIESS™- Microscope à balayage Electronique

Vue 1 sur 3

Description

Etude de la morphologie, minéralogie et composition d'échantillons géologiques.
Imagerie de carottes en mode VP avec les détecteurs C2D et HDBSD pour obtenir le maximum d'information de structure et de composition.
Etude d'échantillons géologiques en cathodoluminescence (CL) tout en évitant les effets de charges des carbonates.

  • Solution polyvalente pour des plateformes de microscopie centrales ou des laboratoires d'assurance qualité industrielle
  • Images d'excellente qualité à partir de tout échantillon du monde réel
  • Qualité d'image maximale grâce à l'émetteur en hexaborure de lanthane (LaB6)
  • Excellence de l'imagerie et de l'analyse sur des échantillons non revêtus et non conducteurs
  • Automatisation du processus et intégrité des données

La série EVO

ZEISS EVO 10

ZEISS EVO 15

ZEISS EVO 25

Hauteurs maximales des échantillons

100 mm

145 mm

210 mm

Diamètre maximal des échantillons

230 mm

250 mm

300 mm

Déplacement motorisé de la platine XYZ

80 × 100 × 35 mm

125 × 125 × 50 mm

130 x 130 x 50 (ou 80) mm

Lettre d’information

Nouveautés, salons et webinaires par e-mail.

Désinscription à tout moment.

WhatsApp